آنالیزر ایکس آر اف X-50 SciAps

توضیحات

آنالیزر ایکس آر اف X-50 SciAps داراي فناوري PiN diode است كه نسل قبلي آشكارساز (دتكتور) ، قبل از ظهور آشكارسازهاي silicon drift است. فناوري PiN نرخ اشعه ايكس را ١٠ تا ٢٠ برابر كمتر از آشكارسازهاي silicon drift که در محصولات دیگری مثل X-505 یافت می شوند پردازش مي كند و تفكيك پذيري آن حدود ١٠٠ eV كمتر (عرض بيشتر) است. با اين حال براي بسياري از كاربردها مثل دسته بندي پايه آلياژهاي ضد زنگ، آلياژهاي مس و دما بالا يا آناليزر فلزات پايه يا سنگين در خاك، سنگ معدن، پودر فلزات و … فناوري PiN رضايت بخش است. آناليزر Mg، X-٥٠ و Al يا Si را اندازه گيري نمي كند و در برخي مواد ميتواند P و S را در تراز %١ اندازه گيري كند. محدوديتهاي تشخيص در مقايسه با نسخه هاي SSD اس اس دی 5 برابر بیشتر خواهد بود. با اين حال X-٥٠ قيمتي جذاب براي قابليت ها و كاربردهايي كه به خوبي كار مي كنند ارائه مي دهد.
کالیبراسیون: پارامترهای اساسی برای ژئوشیمی و Env. در کاربردهای مربوط به خاک ، کاربران همچنین می توانند روش (( نرمال سازی Compton )) را انتخاب کنند و/ یا از کالیبراسیون های مشتق شده تجربی استفاده کنند.